• 首页 |
  • 产品中心 |
    • 洁净度监测
      • 便携式颗粒计数器(气体/微米)
      • 在线式颗粒计数器(气体/微米)
      • 液体颗粒计数器
      • 气流可视化
      • 纳米级颗粒计数器(气体)
      • 清洁和个人防护
    • 产品量测
      • 晶圆测量EH
    • AMC控制
      • VOCs监控机台
      • 产品污染分析
      • 气体
    • 静电和EMI控制
      • 离子化设备
      • 离子化监控
      • 材料监控
      • 静电事件
      • 接地监控
      • 静电防护产品
      • Hanwa
    • 设备和物料量测
      • 水平/震动/湿温度/颗粒
      • 力量测量
      • 机台设备维护保养
      • 物料纳米颗粒量测
      • 晶圆温度量测
      • 实时振动传感器
      • 机台设备
    • 晶圆传运及包装
      • 晶圆传输
      • FOUP/Cassettes/FOSP
      • Ultratape 无尘胶带
      • 包装材料
      • 激光防护玻璃
  • 解决方案 |
    • 半导体制造
    • 面板制造
    • 移动终端制造
    • 通用工业
  • 服务支持 |
    • 在线稽核服务和培训
    • 仪器校验和维修
  • 关于我们 |
    • 公司介绍
    • 企业文化
    • 发展历程
    • 资质荣誉
  • 联系我们
    • 联系信息
    • 电子地图
    • 在线留言
中文-Chinese 英语-English
    首页 > 新闻中心 > 公司新闻

    祝贺半导体湿电子化学品与电子气体论坛顺利展开&我司产品受到广泛关注

    2020-07-23 Alex

    分享



      2020年6月30日半导体湿电子化学品与电子气体论坛在上海召开。会议讨论了半导体产业政策与电子材料市场前景、湿电子化学品与电子气体的全球与中国市场、掺杂气体、蚀刻清洗气体、金属气相沉积气体、半导体封装用电镀液、酸、碱、醇、酮类电子化学品技术与市场等相关内容。

    在会议进程中,我司参展的Kanomax FMT纳米颗粒量测设备引起了与会人员的广泛关注。来自第三方检测机构、工程公司、滤器产商,以及大宗和特种气体、slurry、光刻胶、高纯试剂、抛光材料和半导体生产相关的材料生产商等与会厂商对我司Kanomax“液体纳米颗粒计数、液体纳米粒度仪以及空纳米颗粒计数器”进行细致问询。



    会中我司展示Kanomax FMT产品包括:

    1. Scanning Threshold Particle Counter / STPC


    IMG_257



    (纳米级别不溶性颗粒污染物的浓度)

    设备采用专利雾化(Nebulization)和凝聚核(CPC)技术。

    与传统光学原理不同,可有效避免“气泡(Bubble)、折射率、载体介质、待测样本中颗粒材料和性状等”对测试的不良影响,检测纳米级别颗粒物污染物低至小10nm,分别显示10nm、15nm、20nm。


      2. Liquid NanoParticle Sizer / LNS

     

    IMG_258


    (Slurry和部分化学品中的粒径分布)

    设备采用专利雾化(Nebulization)、凝聚核(CPC)和电迁移率技术。

    符合SEMI C98新版本要求,可以有效地对悬浊液或非澄清液体中的颗粒数量、颗粒浓度和粒径分布做测试(诸如有代表性样品是CMP Slurry),粒径范围:6-360nm @ 64 size bin per decade                                    

     3. Fast CPC / FCPC

       

    IMG_259

        

    设备采用专利雾化(Nebulization)和凝聚核(CPC)技术。快速直接检测气体/烟气中纳米颗粒物的浓度,可每秒生成一笔测试数据,粒径范围:1.9nm-3 µm。在极端的测试要求下,快反应时间可达到20毫秒/笔,为连续动态测试提供解决方案和测试设备。


    如有相关需求欢迎咨询探讨。

    联系人:张磊(Edward)

    电   话:139 2096 7812

    邮   箱:Edward.Zhang@winifred-hk.com

    网   址:http://www.winifred-hk.com

                 

    • 上一篇:第六届工业企业微生物安全控制技术与实践研讨会在京盛大召开
    • 下一篇:卫利国际参加2020年中国半导体封装测试技术与市场年会
产品中心
洁净度监测产品量测AMC控制静电和EMI控制设备和物料量测晶圆传运及包装
解决方案
半导体制造面板制造移动终端制造通用工业
服务支持
在线稽核服务和培训仪器校验和维修
关于我们
公司介绍企业文化发展历程资质荣誉
新闻中心
公司新闻行业资讯
人才招聘
人才理念招聘岗位
联系我们
联系信息电子地图在线留言
400-018-6050
Jennifer.zhang@winifred-hk.com
在线留言
Copyright © 2005-2022 卫利精控科技(武汉)有限公司 版权所有  鄂ICP备2022017916号  深圳网站建设:卓越迈创